当前位置：首页 > news >正文

RZ/G2UL核心板-40℃低温启动测试

news 文章来源：https://blog.csdn.net/m0_62877454/article/details/129376603 2025/1/16 15:00:06

1. 测试对象

HD-G2UL-EVM基于HD-G2UL-CORE工业级核心板设计，一路千兆网口、一路CAN-bus、

3路TTL UART、LCD、WiFi、CSI 摄像头接口等，接口丰富，适用于工业现场应用需求，亦方便用户评估核心板及CPU的性能。

HD-G2UL-CORE系列工业级核心板基于RZ/G2UL微处理器配备Cortex®-A55 (1 GHz) CPU、16位DDR3L/DDR4接口。此外，这款微处理器还配备有大量接口，如摄像头输入、显示输出、USB 2.0 和千兆以太网，因此特别适用于入门级工业人机界面(HMI)和具有视频功能的嵌入式设备等应用。

图1.1 HD-G2UL-EVM评估板

1. 测试目的

低温存储测试的主要目的是测试设备的可靠性和稳定性。

低温存储测试可以模拟设备在极端温度条件下的工作环境，例如极寒的气候或高空环境。测试过程中，设备将处于非常低的温度下，可能会导致某些部件或系统出现故障或性能下降。通过测试设备在这种条件下的性能和可靠性，可以帮助制造商确定是否需要改进设计或使用更可靠的组件。

在低温存储测试之后，启动开发板的目的是检查设备是否能够正常启动并运行。这可以验证设备在低温条件下的可靠性和稳定性，以及设备在此条件下的操作是否符合预期。如果设备无法正常启动或运行，测试结果将指示可能需要改进设计或使用更可靠的组件。

总之，低温存储测试和启动开发板的目的是为了验证设备的可靠性和稳定性，并确定是否需要改进设计或使用更可靠的组件。

2. 测试结果

表2.1 测试结果

3. 测试准备

1.2套HD-G2UL-EVM评估板、网线、Type-C数据线，电脑主机。

2.高低温试验箱。

4. 测试环境

图4.1 测试环境

5. 测试过程

5.1-40℃低温启动

将环境温度设置-40℃，如图5.1所示。被测试样机低温存储2小时，2小时后上电启动。

图5.1 高低温试验箱

上电后两套HD-G2UL-EVM评估板启动正常，未出现系统异常死机等情况。此时环境温度-40℃，两套评估板CPU温度分别为-18.5℃和-19.5℃，如图5.3图5.3所示。

图5.2

图5.3

6. 关于HD-G2UL-EVM-IOT

6.1硬件参数

HD-G2UL-EVM-IOT板载的外设功能：

集成1路10M/100M/1000M自适应以太网接口

集成Wi-Fi

集成3路TTL UART接口

集成1路CAN-bus接口

集成3路USB Host(2路Type A、1路白色带扣USB直插插座)

支持1路TF卡接口

支持液晶显示接口（RGB信号）

支持4线电阻触摸屏与电容屏接口

1路摄像头接口（MIPI CSI）

支持音频（耳机、MIC）

支持实时时钟与后备电池

支持蜂鸣器与板载LED

支持GPIO

1路TTL UART调试串口

直流+5V电源供电

HD-G2UL-EVM-CORE核心板硬件资源参数：

注：受限于主板的尺寸与接口布局，核心板部分资源在IoT底板上引出。